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電子顯微鏡
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JSM-7200F高速分析熱場發射電鏡是日本電子株式會社（JEOL Ltd.）于2015年推出的一款多功能、簡單易用的分析型場發射掃描電鏡，這款高分辨率掃描電鏡是進行樣品納米級圖像顯微分析與微區化學成分分析的理想選擇。通過醉佳光闌角控制透鏡技術，JSM-7200F可以在任意加速電壓下實現小束斑尺寸的大分析束流進而可以輕松實現100nm以內的高空間分辨率分析。
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